元器件高溫高壓測(cè)試箱用途

豪恩系列PCT高壓加速老化測(cè)試設(shè)備適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間.

GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法 　試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

【產(chǎn)品特點(diǎn)】

1.采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，降低了使用故障率；

2.獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞；

3.門(mén)鎖省力結(jié)構(gòu)，解決 代產(chǎn)品圓盤(pán)式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

4.試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

5.超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)1000小時(shí)；

6.水位保護(hù)，透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù)；

7.tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg；

8.二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置；

9.安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕；

10.全觸控式控制器，支持U盤(pán)導(dǎo)出歷史記錄。

技術(shù)參數(shù)： 

控制系統(tǒng):

a.采用觸控式控制器，控制試驗(yàn)溫度，時(shí)間及信息查詢(xún)和數(shù)據(jù)導(dǎo)出.

b.采用指針顯示壓力表.

c.微電腦 P.I.D 自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度.

d.手動(dòng)入水閥（自動(dòng)補(bǔ)水功能，可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn)）.

機(jī)械結(jié)構(gòu):

a.圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì).

b.圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.

c.精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù) 400Hrs 運(yùn)轉(zhuǎn).

d.專(zhuān)有型packing設(shè)計(jì)使門(mén)與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長(zhǎng)packing壽命.

e.臨界點(diǎn) LIMIT 方式自動(dòng)安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示.

安全保護(hù)：

a.進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無(wú)泄露。

b.整機(jī)配備超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，一鍵泄壓，手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置，保證用戶(hù)的使用和安全。

c.反壓門(mén)鎖裝置，在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí)，試驗(yàn)箱門(mén)無(wú)法打開(kāi)。